一、半導體設備結構件的核心優勢
半導體設備結構件(Semiconductor Equipment Components)以高純度陶瓷(Al?O?/AlN/SiC)或特種合金(Invar/AlSiC)為基材,通過精密加工+表面處理工藝制成,滿足半導體制造對潔凈度、耐腐蝕性與熱穩定性的嚴苛要求:
- ? 納米級精度:平面度≤0.005mm,表面粗糙度Ra≤0.1μm,適配晶圓傳輸與曝光精度需求。
- ? 極端環境耐受:耐溫800°C-1600°C,抗等離子體/酸堿腐蝕(PH 1-14),壽命超金屬件5倍以上。
- ? 超高潔凈度:金屬離子析出≤1ppm,無顆粒脫落(NAS 1638 Class 1),適配EUV光刻與高純度制程。
- ? 熱管理卓越:氮化鋁導熱率≥170W/m·K,熱膨脹系數匹配硅片(4.5×10??/℃),減少熱應力變形。
二、核心應用場景與材質選型
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晶圓傳輸與支撐
- 晶圓吸盤(Wafer Chuck):
- 材質:氧化鋁(Al?O?,純度≥99.5%)或碳化硅(SiC,純度≥99.9%)。
- 性能:靜電吸附力≥0.1MPa,平面度≤0.003mm,適配12英寸晶圓減薄/鍵合。
- 真空腔體法蘭:
- 材質:氮化鋁(AlN,導熱率≥170W/m·K)。
- 性能:氣密性≤1×10?? Pa·m³/s,適配刻蝕/PVD設備。
- 晶圓吸盤(Wafer Chuck):
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氣體分配與反應控制
- 氣體分配盤(Gas Distribution Plate):
- 材質:氧化釔穩定氧化鋯(YSZ,耐等離子體侵蝕)。
- 性能:微孔孔徑±0.005mm,均勻性誤差≤±2%。
- 加熱器基座:
- 材質:碳化硅(SiC,耐溫1600°C)。
- 性能:電阻均勻性≤±1%,適配MOCVD外延生長。
- 氣體分配盤(Gas Distribution Plate):
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光刻與檢測設備
- EUV光學鏡座:
- 材質:超低膨脹合金(Invar,CTE≤1×10??/℃)。
- 性能:熱穩定性≤±0.01μm/℃,適配7nm以下制程。
- 晶圓對準平臺:
- 材質:陶瓷復合材料(AlSiC,輕量化)。
- 性能:重復定位精度≤±10nm,適配光刻機對焦系統。
- EUV光學鏡座:
重慶及鋒科技服務優勢
- 全流程定制:
- 材料選型:氧化鋁/氮化鋁/碳化硅/特種合金,適配不同制程需求。
- 工藝優化:精密磨削(精度±0.001mm)、CVD涂層(耐磨/抗等離子體)。
- 功能集成:嵌入電極/傳感器,適配智能溫控與實時監測系統。
- 成本優勢:國產高純度粉體與加工技術,價格比進口品牌低30%-50%。


